آزمون های طول عمر برای محصولات با قابلیت اطمینان بالا در یک شرایط عملکردی عادی غالباً زمان بر و هزینه بر هستند زیرا برای رسیدن به یک تعداد شکست قابل قبول برای تحلیل، اجرای آزمون طول عمر طولانی می گردد. در آزمون های طول عمر شتاب دهنده، فاکتور شتاب دهنده معلوم بوده و یا با استفاده از یک مدل ریاضی می توان آن را به دست آورد. ولی در برخی اوقات فاکتور شتاب دهنده معلوم نبوده و یا مدلی برای محاسبه آن وجود ندارد. در چنین مواردی آزمون های شتاب دهنده جزئی راهکار خوبی برای استفاده هستند. در این مقاله یک آزمون شتاب دهنده جزئی با استرس ثابت و با در نظر گرفتن سانسور نوع یک ارائه شده است. فرض بر این است که توزیع احتمالی طول عمر واحدهای تحت آزمون ‏تعمیمی از توزیع وایبل می باشد. برای برآورد پارامترها از روش درستنمایی ماکزیمم استفاده شده است. برای ارزیابی روش نیز از یک مطالعه شبیه سازی مونت کارلو استفاده شده است.